新技術(shù)可透視電腦芯片
摘要：圖片來源：Stantchev et al研究人員提出了一種透視硅片的方法，從而提供了一種探查電腦芯片以尋找微小制造缺陷的強大新工具。為證實該方法的有效性，研究團隊將輻射模式投射
圖片來源：Stantchev et al
研究人員提出了一種透視硅片的方法，從而提供了一種探查電腦芯片以尋找微小制造缺陷的強大新工具。
為證實該方法的有效性，研究團隊將輻射模式投射到115微米厚的硅片上。這會臨時性地使電子在這種通常作為半導體的材料內(nèi)部流動。當擁有導電性時，硅對于太赫茲輻射來說是透明的。太赫茲指的是每秒上萬億個周期的輻射。此類輻射介于微波和紅外輻射之間，擁有150納米～1.5毫米的波長。
隨后，研究人員測量了通過硅片反彈回來的輻射，以識別出現(xiàn)在硅片背面的物體或特征（圖片顯示的是一個2毫米×2毫米的部分電路）。利用此項技術(shù)，科學家能發(fā)現(xiàn)直徑小至8微米（或者說，約是人類最細頭發(fā)直徑的一半）的電路缺陷。他們在日前出版的《科學進展》雜志網(wǎng)絡(luò)版上報告了這一成果。
從短期來看，此項技術(shù)最有可能的用途或許是在生產(chǎn)電腦芯片的工廠中用于質(zhì)量控制。不過，研究人員表示，從長遠來看，該技術(shù)或許可被用于仔細檢查生物組織的薄切片以發(fā)現(xiàn)疾病跡象。
太赫茲成像不會在探測較厚的組織切片或?qū)ι眢w部位進行成像方面派上用場。比如，一個原因在于所有活體組織的主要成分——水能強烈吸收這些波長的輻射，并因此阻礙了此項技術(shù)在透視這些物體方面的能力。（徐徐）
責任編輯：fl
(原標題：中國科學報)
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